📰 国产高端半导体检测设备发布：一机两用，覆盖半导体全链条检测需求

IT之家 6 月 29 日消息，据科大硅谷公众号昨日消息，安徽凌光红外科技有限公司近日发布了 LUXET VERITAS 微光显微镜及激光诱导电阻变化（EMMI+OBIRCH）二合一显微镜，填补国内市场空白。

IT之家获悉，LUXET VERITAS 二合一显微镜深度融合 EMMI 微光检测与 OBIRCH 激光诱导电阻变化两大主流失效分析功能，一机两用、高度集成，全面覆盖半导体全链条检测需求。

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